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半導體器件檢測機構-半導體器件測試報告

 2023-02-23   閱讀:449次    來源:深圳安車昇輝檢測  

 檢測服務:半導體器件檢測

  檢測周期:7-15個工作日出具測試報告。

  檢測費用:樣品初檢后結合客戶檢測需求以及實驗復雜程度進行報價。

  檢測范圍

  雙極型晶體管、場效應晶體管、晶體二極管等。

  晶體二極管:整流二極管、檢波二極管、變頻二極管、變容二極管、開關二極管、穩壓二極管(曾訥二極管)、崩越二極管(碰撞雪崩渡越二極管)和俘越二極管等。


檢測標準列舉

  GB/T 2900.32-1994 電工術語 電力半導體器件

  GB/T 4023-2015 半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管

  GB/T 4586-1994 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管

  GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規范

  GB/T 4937.1-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分: 總則

  GB/T 4937.2-2006 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓

  GB/T 4937.3-2012 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第3部分:外部目檢

  GB/T 4937.4-2012 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:強加速穩態濕熱試驗(HAST)

  GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分:快速溫度變化 雙液槽法

  GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分:掃頻振動

  GB/T 4937.13-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分:鹽霧

  GB/T 4937.14-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第14部分:引出端強度(引線牢固性)

  GB/T 4937.15-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第15部分:通孔安裝器件的耐焊接熱

  GB/T 4937.17-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第17部分:中子輻照

  GB/T 4937.18-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第18部分:電離輻照(總劑量)

  GB/T 4937.19-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第19部分:芯片剪切強度

  GB/T 4937.20-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第20部分:塑封表面安裝器件耐潮濕和焊接熱綜合影響

  GB/T 4937.21-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第21部分:可焊性

  GB/T 2900.66-2004 電工術語 半導體器件和集成電路



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